高低温冲击试验箱半导体

简要描述：高低温冲击试验箱半导体满足标准：GJB360.7-87温度冲击试验；GJB 150.5A-2009 装备实验室环境试验方法第5部分：温度冲击试验；

产品分类

详细介绍

高低温冲击试验箱半导体用来测试汽车配件、LED、金属、塑料、橡胶、电子等材料，在瞬间下经高温和低温的连续环境下所能承受的程度，藉以在短时间内试验其因热胀冷缩所引起的化学变化和物理伤害，可作为其产品改进的依据和参考。

高低温冲击试验箱半导体技术参数：

温度范围：-65～150℃

温度波动度：≤±0.5℃

温度偏差：≤±2℃

转换时间：≤10S

温度回复时间：≤5min

外壳：冷轧钢板表面喷塑或不锈钢可选

内箱样品架层架：不锈钢板分2层

隔热材料：聚氨酯发泡+超细玻璃棉

制冷方式：复叠式双级压缩机制冷方式（水冷）

制冷机：或压缩机

加热器：镍铬合金加热丝式加热器

鼓风机：长轴离心风机

温度传感：铂电阻Pt100

控制器/记录装置：PLC控制器、彩色液晶显示触摸屏/微型打印机

电脑接口：RS485接口、RS232转换线、上位机操作软件（选配）

内箱尺寸(mm)：D×W ×H：350×360×400、400×500×400、500×600×500

标准配置：合格证、说明书、试验报告、及验收报告各1份、隔层架2层

满足标准：GJB360.7-87温度冲击试验；GJB 150.5A-2009 装备实验室环境试验方法第5部分：温度冲击试验；

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