半导体高低温冲击试验设备

半导体高低温冲击试验设备也可称为高低温冷热冲击试验柜，是金属、光电、橡胶、塑料、电子等工业成品或材料行业需要的温度速转换破坏型测试设备，常用于测试产品或材料结构及复合材料，在瞬间下经*温及低温的连续环境下所能忍受的程度，得以在短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。

半导体高低温冲击试验设备性能参数：

     1、试验温度可选：-40℃～+150℃；-55℃～+150℃；-65℃～+150℃

     2、温度均匀度：±2.0℃

     3、高温室预热温度高：60℃～200℃

     4、低温室预冷温度低：RT+10℃～-75℃

     5、温度预热时间：约40min                             

     6、温度预冷时间：约90min

     7、温度移动及恢复时间：≤ 10S;≤ 5min

     8、试验方式：气动风门切换2温区或3温区

     9、试验物重量：5kg/层

     10、冷冻系统：采用或者压缩机并匹配复叠式制冷系统。

     11、冷凝方式：风冷式或水冷式

     12、控制方式：微电脑可程控+PID+SSR

通信设备kaiyun体育官方网站入口 ｜通讯设备高低温冲击试验箱的测控系统：

1.控制器：OYO9226S触屏中英文显示器+PLC﹙控制软件﹚+温控模块

2.运行方式：程序方式

     ﹙1﹚控制对象  试验区曝露温度

                     高温恒温区预热温度

                     低温恒温区预热温度

                     低温恒温区除霜温度

     ﹙2﹚指示度  0.1℃

     ﹙3﹚输    入  热电偶  TDIN

     ﹙4﹚控制方式  微电脑PID+SSR控制

3.设定方式：中文菜单，触摸屏方式输入。

4.程序容量：100组程式，每个程序大3步；每个程序可设1000次循环，大循环设定9999cycles;

5.设定范围：预热预冷箱区

高温室预热温度上限：+205℃；

低温室预冷温度下限：-80℃；

试验室﹙试样区﹚

温度冲击上限：+150℃；

温度冲击下限：-65℃

6.显示分辨率：温度：0.1℃      时间：0.1min;

7.通讯功能：RS-232接口及USB接口，具有本地和远程通讯功能；

8.控制方式：抗积分饱和PID，模糊算法；BTC平衡调温控制方式；

9.附属功能：处理提示功能、故障报警及原因、超温保护、故障记录、上下限温度保护、断电保护、试验暂停、传感器上下风选择、报警输出、时间信号输出，试验结束输出、温度到达输出、定时启动及自动停止功能、自诊断功能；